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分析高压抗干扰介质损耗测试仪测试不合理的原因

  • 发布日期:2021-06-16      浏览次数:40
    •   高压抗干扰介质损耗测试仪当发出测量指令后,较长时间(1分钟)屏幕上不出现测量结果,有可能是试品电容太大或死机造成,重新开机后降低测量电压再测。
        分析高压抗干扰介质损耗测试仪测试不合理的原因:
        1、搭钩接触不良
        现场测量使用搭钩连接试品时,搭钩务必与试品接触良好,否则接触点放电会引起数据严重波动!尤其是引流线氧化层太厚,或风吹线摆动,易造成接触不良。
        2、接地接触不良
        接地不良会引起仪器保护或数据严重波动。应刮净接地点上的油漆和锈蚀,务必保证0电阻接地!
        3、直接测量CVT或末端屏蔽法测量电磁式PT
        直接测量CVT的下节耦合电容会出现负介损,应改用自激法。
        用末端屏蔽法测量电磁式PT时,由于受潮引起“T形网络干扰”出现负介损,吹干下面三裙瓷套和接线端子盘即可。也可改用常规法或末端加压法测量。
        4、空气湿度过大
        空气湿度大使介损测量值异常增大(或减小甚至为负)且不稳定,必要时可加屏蔽环。因人为加屏蔽环改变了试品电场分布,此法有争议,可参照有关规程。
        5、发电机供电
        发电机供电时输入频率不稳定,可采用定频50Hz模式工作。
        6、测试线
        由于长期使用,易造成测试线隐性断路,或芯线和屏蔽短路,或插头接触不良,用户应经常维护测试线;
        测试标准电容试品时,应使用全屏蔽插头连接,以消除附加杂散电容影响,否则不能反映出仪器精度;
        自激法测量CVT时,非专用的高压线应吊起悬空,否则对地附加杂散电容和介损会引起测量误差。
        7、工作模式选择
        接好线后请选择正确的测量工作模式(正、反和CVT),不可选错。特别是干扰环境下应选用变频抗干扰模式。
        8、试验方法影响
        由于介损测量受试验方法影响较大,应区分是试验方法误差还是仪器误差。出现问题时可首先检查接线,然后检查是否为仪器故障。

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